超声C扫描机构价格合理 北京纳克无损

C扫描检测应用范围

超声波C 扫描技术是将 超声检测与微机控制和微机进行 数据采集、存贮、处理、图像显示集合在一起的技术。超声波C 扫描系统使用计算机控制超声 换能器(探头) 位置在工件上 纵横交替搜查,把在探伤距离特定范围内(指工件内部) 的反射波强度作为 辉度变化并连续显示出来,可以绘制出工件内部缺陷 横截面图形。这个横截面是与超声波声束垂直的,即工件内部缺陷横截面,在计算机显示器上的纵横坐标,分别代表工作表面的纵横坐标。

C 扫描成像原理

比方100*100的一个矩形工件，用C扫描扫查，每1mm*1mm记录一个A扫描波形，100*100需要记录10000个A扫描波形，根据这10000个A扫描波形的高低不同生成C扫描图像，这就是C扫描成像的原理，也是对C扫描成像原理形象的解释。

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C 扫描优势

优势一：“点聚焦探头”让超声能量高度集中，可以检测出更细微的缺陷

C扫描使用点聚焦探头，如图1点聚焦探头示意图，通过探头中的透镜，把一束超声波聚焦为1个点，能量高度集中，能发现更细微缺陷；

图2 是实测的点聚焦探头的声场图，检测时把板厚置于焦柱范围内即可，制作探头时焦柱长度可控制在5~50mm。

图1：点聚焦探头示意图

图2：点聚焦探头实测声场图

优势二：“密集的步距”保证了扫查的高度精细化

常规A扫探伤时，步距一般是探头晶片的尺寸，一般是10~20mm

但C扫描一般控制在0.1~3之间，当然步距太小会极大地降低检测效率。

比如：如果人工检测，用直径20mm的探头检测，100*100的区域一般观察25个点。C扫描选择1mm步距时，是记录了10000个点

25个点和10000个点相比，扫查的精细化显而易见